Отправить запрос
Заказать звонок

8V182512IDGGREP Texas instruments

Артикул

8V182512IDGGREP

Производитель

Texas instruments

Заказать
Консультация


Описание

Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device


8V182512IDGGREP – это артикул товара с розничной ценой за штуку. Купить в Москве по персональной цене, возможно, если вы заказываете оптом или являетесь нашим постоянным клиентом. Уточнить аналоги и узнать персональную цену на вы сможете, позвонив в 6088 по номеру, указанному вверху страницы.


Купить 8V182512IDGGREP Texas instruments в Москве оптом и в розницу можно как по телефону, так и заказать онлайн через форму обратной связи на нашем сайте с доставкой в любой город России.

Похожие товары Texas instruments

74LVTH182504APMG4

Специальные функциональные логические элементы 3.3V ABT Scan Test Devi ...

74LVTH18502APMRG4

Специальные функциональные логические элементы 3.3V ABT Scan Test Devi ...

CD4007UBE

Специальные функциональные логические элементы Dual Comp Pair Plus ...

CD4007UBEE4

Специальные функциональные логические элементы Dual Comp Pair Plus ...

Отправьте заявку и узнайте стоимость прямо сейчас

Ответим на ваш запрос в течение 15 минут

Отправить запрос
Заказать звонок